XRF (X-Ray Fluorescence) spectroscopie

XRF-spectroscopie maakt gebruik van ‘secundaire’ of fluorescente straling, die ontstaat als een materiaal wordt bestraald met röntgenstraling. Afhankelijk van de samenstelling van het materiaal dat wordt bestraald ontstaat secundaire straling met specifieke eigenschappen. Hiermee kunnen de gehaltes aan aanwezige elementen worden bepaald. Bij bodemmateriaal en keramiek kunnen analyses informatie geven over de samenstelling. De methode is niet-destructief als gebruik wordt gemaakt van een HH (HandHeld)-XRF of P (Portable)-XRF, maar dit is wel minder nauwkeurig dan de labgebaseerde systemen EDXRF (Energy Dispersive X-Ray Fluorescence) en WDXRF (Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence). XRF-spectroscopie kan worden toegepast op bijna alle anorganische materialen. De grootste beperking is dat de meting plaatsvindt aan het oppervlak van een monster of artefact. Het is daarom belangrijk om monsters of artefacten schoon en vlak te houden.

Sluiten

Verbeter de digitale toegankelijkheid door kleuren donkerder te maken, het kleurcontrast te verzachten, de regel en letterafstand te vergroten.